Allgemeine Informationen
Bei der Vorabkonformitätsprüfung von EMV erfassen die Nahfeldsonden H20, H10, H5 und E5 Strahlungsemissionen. Ihr Hauptzweck besteht darin, abgestrahlte Störungen im Nahbereich von elektronischen Baugruppen zu lokalisieren.
Typischerweise werden diese Sonden mit einem Spektrumanalysator verbunden. Durch das Scannen der Sonde über die Oberfläche einer Leiterplattenbaugruppe oder eines PCB-Gehäuses lassen sich schnell Bereiche identifizieren, die elektromagnetische Strahlung abgeben. Um die genaue Quelle der Emissionen zu ermitteln, kann auf eine Sonde mit kleinerer Größe gewechselt werden.
Zusätzlich eignen sich die Sonden für HF-Immunitätstests, bei denen ein HF-Signal in die Sonde eingespeist und in potenziell anfällige Schaltungsabschnitte abgestrahlt wird. Darüber hinaus können die Sonden im Bereich der Reparatur oder des Debuggens eingesetzt werden, um Probleme in HF-Signalketten durch berührungslose Messungen der HF-Signalpegel zu identifizieren.
Eine weitere Anwendung besteht in der nicht-invasiven Messung von HF-Bausteinen wie Modulatoren oder Oszillatoren. In Verbindung mit einem rauscharmen Vorverstärker können Frequenz, Phasenrauschen und spektrale Komponenten gemessen werden. Optional können die Breitbandverstärker TBWA1 / 20dB und TBWA1 / 40db zwischen der EMV-Sonde und dem Spektrumanalysator angeschlossen werden, um den Dynamikbereich der Messungen zu erhöhen.
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